Għaliex il-kejbil USB ipplaggja s-sadid qabel

Il-fenomenu li l-plagg tal-kejbil tad-dejta USB huwa faċli biex sadid huwa direttament relatat mas-saff electroplated tal-plagg tal-kejbil tad-dejta USB. Jekk is-saff tal-kisi fuq il-wiċċ tal-metall tal-plagg USB jista 'jilħaq il-ħxuna u l-kwalità standard, mhuwiex faċli li sadid. Jekk is-saff tal-kisi huwa fqir, huwa faċli li sadid. Il-kwalità tal-kisi electroplated hija kejl tal-kapaċità tal-wiċċ tal-metall li jirreżisti l-ossidazzjoni u s-sadid.

Il-kapaċità anti-ossidazzjoni u tas-sadid tal-kisjiet Elettropożittivi hija kklassifikata permezz tat-test tal-isprej tal-melħ fl-industrija. Ir-rutina tinkludi test tal-isprej tal-melħ ta '8 sigħat, test tal-isprej tal-melħ ta' 12-il siegħa, test tal-isprej tal-melħ ta '24 siegħa u test tal-isprej tal-melħ ta' 48 siegħa. Iktar ma jkun twil il-ħin tat-test tal-isprej tal-melħ, iktar tkun b'saħħitha l-abbiltà kontra l-ossidazzjoni u s-sadid, u mhux faċli li sadid.